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仪器中文名

荧光光谱仪

仪器英文名

x-ray fluorescence spectroscopy

型号

F-4600

制造商

日立/Hitachi

产地

日本

购买年份

2010-04

主要规格

荧光分光光度计以其高灵敏度、快速的波长扫描，实用的预扫描功能，独特的光栅和水平狭缝光路。适用于高灵敏度的荧光痕量分析，应用于材料，生命科学等高科技领域，和质控，教学等常规分析领域。

技术指标

波长扫描速度：30，60，240，1200，2400，12000，30000nm/min,

波长驱动速度：60000nm/min；最小液体样品量：0.6ml（采用普通10mm荧光池）粉末需要量10ul；分辨率：1.0nm；波长准确性：±2 nm；测量波长范围：200到900nm。

主要功能

高灵敏度的荧光痕量分析操作简单。

应用范围

材料，生命科学等高科技领域，和质控，教学中关于荧光的痕量分析。

对外开放时间

8:30-17:00

放置地点

测试楼503

仪器负责人

陈代梅