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仪器中文名称

扫描电子显微镜

仪器英文名称

Scanning Electron Microscope

厂商

日本电子株式会社/捷欧路（北京）科贸有限公司

型号

JSM-IT300

购买年份

2013年

技术指标

•分辨率：二次电子像 3nm(30kV)、8nm(3kV)、15nm(1kV)

•放大倍数：x5--x300000倍

  •真空度：高真空小于10^-4Pa

•加速电压：0.3--30kV，连续可调

•灯丝：预对中钨灯丝

•光阑：三级可调物镜光阑

  •自动功能：自动聚焦、自动亮度对比度、自动像散校正

  •样品台：全对中样品台，具有5轴自动马达驱动功能

  •成像模式：二次电子像、背散射电子像、信号混合图像

功能介绍

扫描电子显微镜由电子光学系统、真空系统、数据处理系统、样品室和样品台、二次电子探测器、背散射电子探测器、X射线能谱仪及保证仪器正常运转所需的各种附件、零部件等组成。主要用于材料科学、化学化工以及相关领域样品的微区表面形貌观察，并配合能谱仪对微区表面成分进行分析。

放置地点

测试楼125

负责人

陈淑静 敖卫华