原子力显微镜
发布时间:2017-09-14 发布:[材料科学与工程学院]宋媛 阅读:156次
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仪器中文名称 |
原子力显微镜 |
仪器英文名称 |
Atomic Force Microscope |
厂商 |
布鲁克公司 |
型号 |
Dimension Icon |
购买年份 |
2016年 |
技术指标 |
1.扫描器 ?扫描器范围:XY方向扫描范围不小于90微末,Z方向不小于9微米 ?横向分辨率:0.1nm(XY方向) ?扫描方式:采用探针扫描的扫描方式,有闭环系统,可准确定位 ?进针方式:智能自动进针方式 ?热漂移速率:<0.2nm/min。 2.AFM控制系统及功能 ? 定量机械力学测试模式:峰值力反馈可软件实时调整峰值反馈力大小,控制精度小于50pN,峰值力轻敲模式测试高分辨图像的可以对样品表面形貌高分辨率成像,同时可以对纳米力学性能(包括弹性模量、粘附力等)进行成像。 可通过热振动方式标定探针微悬臂弹性常数,标定范围:≥2MHZ |
功能介绍 |
原子力显微镜(AFM)可以在大气及液体环境下准确地观测样品表面微区(纳米级亚微米尺度)三维形貌;可以在高分辨成像的同时对样品表面物理化学特性进行研究,能测试多种材料如矿物材料、膜材料、压电/铁电材料、高分子材料等非金属材料以及金属材料、复合材料的多种物性。包括表面组分区别、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力、电流及其他表面力的测量。AFM具有分辨率极高,可实时、实空间、原位成像,对样品无特殊要求,系统及配套相对简单等优点,广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域。 |
放置地点 |
测试楼127 |
负责人 |
陈淑静 |