大型仪器介绍
发布时间:2025-06-12 发布:[材料科学与工程学院] 阅读:0次
扫描电子显微镜
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| 扫描电子显微镜 |
| Scanning Electron Microscope |
| 日本电子株式会社/捷欧路(北京)科贸有限公司 |
| JSM-IT300 |
| 2013年 |
| 分辨率:二次电子像 3nm(30kV)、8nm(3kV)、15nm(1kV); 放大倍数:x5-x300000倍; 真空度:高真空小于10-4Pa; 加速电压:0.3--30kV,连续可调;
样品台:全对中样品台,具有5轴自动马达驱动功能;
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| 1、固态的,在真空中稳定的、导电样品; 2、不适用:磁性粉末,含水样品、含油污或真空中不稳定的样品。 |
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样品表面镀膜80元/次(100元/次) 送样者自行操作观察150元/小时(200元/次) 委托操作观察180元/小时(300元/次) 能谱仪测试:单点80元(100元),面扫描150元(300元/次)一次 |
| 测试楼125 |
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原子力显微镜
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| Atomic Force Microscope (AFM, Bruker Dimension Icon) |
| 美国 布鲁克 |
| Dimension Icon |
| 2014年 |
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分辨率:XY 1nm,Z 0.1nm。 |
| 1、观测样品表面微区(纳米级亚微米尺度)三维形貌; 2、在高分辨成像的同时对样品表面物理化学特性进行研究,能测试多种材料如矿物材料、膜材料、压电/铁电材料、高分子材料等非金属材料以及金属材料、复合材料的多种物性,包括表面组分区别、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力、电流及其他表面力的测量; 3、AFM具有分辨率极高、可实时原位成像、对样品无特殊要求,系统及配套相对简单等优点,广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域。 |
| 1、样品状态:可为粉末、液体、块体、薄膜样品; 2、粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg; 3、液体样品一般涂到新鲜解离的云母片上,如样品在云母片上吸附不好,请客户自行将样品涂到其他底材上(如硅片)进行测样; 4、薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5μm,一定要标明测试面! 5、测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小大于0.5*0.5cm。 |
| 1、基本形貌分析 校内:100元/小时(探针另计费100元/根,可自带) 校外:200元/小时(探针另计费100元/根) 2、力学、电学性能分析 校内:150元/小时(探针另计费100元/根,可自带) 校外:300元/小时(探针另计费100元/根) |
| 测试楼124 |
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X射线衍射仪
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| X射线衍射仪 |
| X-Ray Diffractometer |
| Bruker Scientific Instruments Hong Kong CO., Limited |
| D8 Advance |
| 2014年 |
| X射线光管:Cu靶,陶瓷X光管,2.2 kW 最大输出功率:3kW 额定电压:60kV;额定电流:80mA 扫描方式:θ/θ测角仪;角度重现性:0.0001° |
主要功能 | 能够精确地对矿物材料样品进行物相定性定量分析,复合材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析,结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析,微观应力及晶粒大小分析,微区分析、宏观应力分析、织构ODF分析及高低温原位分析。 |
| 1、粉末样品: 晶粒要细小,试样无择优取向。定性分析时粒度应小于44微米(350目),定量分析时应将试样研细至10微米左右。 将粉末试样充填至试样架里,均匀分布并用玻璃板压平实,样面与玻璃表面齐平。 2、块状样品: 先将块状样品表面研磨抛光,大小不超过20×18平方毫米,然后用橡皮泥将样品粘在金属试样架上,要求样品表面与金属试样架表面齐平。 3、微量样品: 取微量样品放入玛瑙研钵中将其研细后放在单晶硅试样架上(切割单晶硅试样架时使其表面不满足衍射条件),滴数滴无水乙醇使其分散均匀,待乙醇完全挥发后即可测试。 4、薄膜样品制备: 将薄膜样品剪成合适大小,用胶带纸粘在玻璃试样架上即可。 |
| 校内:40元/样,或240元/小时 校外:80元/样,或400元/小时 |
| 测试楼127 |
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电感耦合等离子体发射光谱仪
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| 电感耦合等离子体发射光谱仪 |
| Inductively Coupled Plasma Emission Spectrometry |
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| ICAP 7600 |
| 2016年 |
| 波长范围:166nm-847nm,全波长覆盖;
蠕动泵:4通道,微型蠕动泵; 射频信号源:27.12MHZ固态; 分析速度:大于每分钟70个元素或谱线; 样品消耗量:小于2mL,测定大于70个元素。 |
| 1、定性分析:对未知样品进行全谱扫描,给出样品中无机元素(包括非金属磷和硫元素)的种类及元素含量的范围。 2、定量分析:对样品中元素含量进行准确定量分析,检测元素下限为0.1mg/kg,上限为20%。超出范围的元素需结合其他分析手段共同分析。 |
| 1、可测样品为透明澄清无色酸性液体(待测液中不能含有氢氟酸和硫酸)。 2、样品需过0.22 微米滤膜,水样体积在7 mL以上,浓度在1-200 ppm之间,标液浓度不可大于150 ppm。 3、配制待测元素的标准溶液,预估待测液中待测元素的含量的大概范围,根据该范围配制相应浓度的标准溶液。将配制好的标准溶液及待测液分别取10 mL装于塑料离心管或试管中,用离心管架或试管架承托,便于后续测试。 |
| 校内:500元/小时(自备标样,0.5小时起步,不足15分钟按照15分钟计算) 校外:700元/小时(自备标样,0.5小时起步,不足15分钟按照15分钟计算) |
| 测试楼122 |
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气相色谱-质谱联用仪
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| 气相色谱-质谱联用仪 |
| Gas Chromatography-Mass Spectrometry |
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| ISQ 7000 |
| 2018年 |
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1pgOFN信噪比为600:1; 配备火焰离子检测器(FID)和热导检测器(TCD)。 |
主要功能 | 气相色谱法–质谱法联用(GC-MS)是一种结合气相色谱和质谱的特性,在试样中鉴别不同物质的方法。气相色谱具有极强的分离能力,质谱对未知化合物具有独特的鉴定能力,且灵敏度极高,因此GC-MS是分离和检测复杂化合物的最有力工具之一。 主要应用于工业检测、食品安全、环境保护等领域,如纺织品检测禁用偶氮染料、含氯苯酚检测;农药残留、食品添加剂等。电子电器产品检测,如多溴联苯、多溴联苯醚检测等。 |
| GC-MS样品要求: 1、待测样品必须是分子量小于450、沸点小于250℃的易挥发有机物质; 2、待测样品如果是固体必须可以溶于溶剂中配成溶液,气体样品可直接进样; 3、所用试剂纯度需达分析纯以上。
1、溶剂纯度够高,至少是色谱纯的试剂; 2、被测组分和溶剂均是低沸点易挥发的化合物; 3、上机前样品需要使用0.45um的滤膜过滤; 4、测试极性的物质需要使用极性的柱子。 |
| 校内:常规样品:100元/个,非常规样品:200-300元/个 校外:常规样品:200元/个,非常规样品:400-600元/个 |
| 测试楼122 |
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高效液相色谱仪
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| High Performance Liquid Chromatograph (Ultimate 3000 RSLC) |
| 赛默飞世尔科技有限公司(Thermo Fisher Scientific Ltd) |
| Ultimate 3000 RSLC |
| 2018年 |
| 二元或四元系统适用于UHPLC和传统的HPLC应用; 宽广的流速/压力范围,适用于分离度的分离; 系统高耐压1034 bar; 高8mL/min 流速,体现出高流速下耐受高压的稳定性能; 分析速度是常规液相的50倍;
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| 高效液相色谱仪(HPLC) 主要用于分析高沸点不易挥发的、受热不稳定的和分子量大的有机化合物的仪器设备。它是以液体为流动相,采用高压输液系统,将具有不同极性的单一溶剂或不同比例的混合溶剂、缓冲液等流动相泵入装有固定相的色谱柱,在柱内各成分被分离后,进入检测器进行检测,实现对试样的分析。主要用于分析高沸点不易挥发的、受热不稳定的和分子量大的有机化合物的分析,具体分为定性与定量。 |
| 1、固体样品:粉末样品可以用钥匙取微量试样在载玻片上,压制成光滑的平面,块状样品可将样品的一个面制成光滑平面,然后散射测量。 2、液体样品:测液体试样时,用滴管吸取一两滴滴到载玻片上,对于易挥发的或者有腐蚀性的样品,应将其注入到毛细管密封后再进行测量。易光解的样品装入旋转装置的样品池中,利用样品架转调节样品。深色液体或透明度很低的样品,宜稀释后再进行测量。 |
| 校内:100元/样(限3个点)或480元/小时 校外:200元/样(限3个点)或800元/小时 |
| 测试楼124 |
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显微共聚焦拉曼光谱仪
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| Confocal Micro Raman Spectrometer |
| 法国 HORIBA Jobin Yvon |
| LabRAM HR Evolution |
| 2018年 |
| 光谱分辨率:可见光波段:0.65cm-1; 光谱仪焦长800mm; 激光器325nm、532nm、785nm; 三维自动平台,SWIFT快速成像。 |
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1、无机、有机、高分子等化合物的定性分析; 2、材料晶型变化、结构及其缺陷的研究; 3、材料成分表面分布及其深度分布变化研究; 4、高分子结构变化、相容性、应力松弛及分子相互作用研究; 5、材料的变温过程分析等。 |
| 1、固体样品:粉末样品可以用钥匙取微量试样在载玻片上,压制成光滑的平面,块状样品可将样品的一个面制成光滑平面,然后散射测量。 2、液体样品:测液体试样时,用滴管吸取一两滴滴到载玻片上,对于易挥发的或者有腐蚀性的样品,应将其注入到毛细管密封后再进行测量。易光解的样品装入旋转装置的样品池中,利用样品架转调节样品。深色液体或透明度很低的样品,宜稀释后再进行测量。 |
| 校内:100元/样(限3个点)或480元/小时 校外:200元/样(限3个点)或800元/小时 |
| 测试楼124 |
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全自动比表面和孔径分布分析仪
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| Automated gas sorption analyzer |
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| Autosorb-iQ-2MP |
| 测量范围:孔隙度3.5-5000A;比表面积>0.0005m2/g; 精确的微孔分析能力,极限高真空达10-10 mmHg; 数据分析方法,包括NLDFT,QSDFT和GCMC孔分布模型; 精细的压力传感器,可分辨2.5X10-7mmHg的压力变化;
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| Autosorb-IQ-2MP是新一代物理吸附分析仪,配有两个物理吸附分析站,两个站可同时进行微孔分析;双工作站均具有独立的压力传感器,可实时进行实时压力测定;计算机控制的双脱气工作站,真空脱气达到分子泵水平。 |
| 1、确定样品管管身、管口无裂纹(以防测试过程中发生漏气现象); 2、根据预估的样品比表面积计算称样量。对于比表面积测试,使样品管中总面积(样品比表面积×样品质量)>2m2;对于孔径分布测试,使样品管中总面积(样品比表面积×样品质量)>10m2; 3、样品的体积一般不超过样品管容积的2/3。 |
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比表面积:120(240)元/样,限时6h,超时加收20(40)元/h; 介孔材料孔分布:240(450)元/样,限时24h,超时加收20(40)元/h; 微孔材料孔分布:600(1000)元/样,限时48h,超时加收20(40)元/h。 |
| 测试楼122 |
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纳米粒度与Zeta电位仪
仪器照片 | |
仪器中文名称 | 纳米粒度与Zeta电位仪 |
仪器英文名称 | Laser Particle Size and Zeta Potential Analyzer |
厂商 | 英国马尔文仪器有限公司 |
型号 | Zetasizer Nano ZS90 |
购买年份 | 2013 |
技术指标 | 1. 颗粒粒度及分子大小 测量范围:0.3 nm - 5.0µm(直径); 最小样品容积:20μm; 2. Zeta电位 测量范围:3.8nm - 100µm (直径); 最小样品容积:150µL; 精确度:0.12µm.cm/V.s,针对水性系统 灵敏度:10mg/mL(BSA) 3. 分子量 测量范围:9,800Da – 20M Da*; 最小样品容积:20µL(需要3-5种样品浓度); 精确度:+/- 10% 典型值 |
主要功能 | 测试各种液体、粉体(在某种溶剂中不溶解)的粒径、可使用激光多普勒微电泳测量zeta电位和电泳迁移率的能力,以及使用静态光散射测量分子量。 |
样品要求 | 1. 测量粒径前,需查知样品分散剂的粘度、折光指数; 2. 液体样品:不少于1mL 固体样品:不少于0.05g,无大于5微米的颗粒,分散剂是水或者乙醇。 |
收费标准 | 校内:200元/小时或40元/样;校外:250元/小时或50元/样 |
负责人 | 陈代梅 |
放置地点 | 测试楼122 |
差示扫描量热仪
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| Differential scanning calorimetry |
| 德国耐驰(NETZSCH, Selb, Germany) |
| DSC214 |
| 2015年 |
| 温度范围:15℃~1000℃; 天平灵敏度:0.1μg; 量热精度:±2%; 升温速率:0.01~100℃/min; 冷却速率快,从1000℃降温到30℃少于20分钟;
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| 1、测定物质熔点 2、最低分解温度、玻璃化转变温度 3、相变焓、热稳定性等 |
| 1、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品(一定要干燥)。 2、粉末样品:样品用量一般在3-5mg,寄样最好在10-20mg(样品密度小很轻的需提前联系)。 3、块状、薄膜样品:块体样品尺寸不要大于直径3mm,高2mm,薄膜尽量提供小尺寸样品。 4、样品不可含酸根、卤素、硫、磷、硒等成分。 |
| 校内:50元/小时 校外:100元/小时 |
| 测试楼201 |
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热重分析仪
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| Simultaneous thermal analyzer |
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| STA8000 |
| 2015年 |
| 1、温度范围:室温~1000 °C; 2、天平灵敏度:0.1μg; 3、升温速率:0~200 °C/min; 5、天平量程:0~2 g; 6、c-DTA功能,得到DTA理论曲线。 |
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| 样品量不少于15 mg,固体、液体、粉末、薄膜或纤维样品; 明确标注样品成分; 粉末样品尽量磨细; 升华材料不能测试; 发泡材料、体积有膨胀的材料必须标注; 不进行恒温实验。 |
| 校内:120元/小时(坩埚自带) 校外:200元/小时(坩埚自带) |
| 测试楼201 |
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铁电测试系统
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| Ferroelectric materials testing system |
| 美国Radiant Technologies, DELTA DESIGN INC. |
| RTI-Premier II(High Voltage Amplifier +/-10KV) |
| 2012.12 |
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电压范围:±100 V; 测试频率范围:0.03 Hz-100 kHz; 测试精度:0.1%; 最大疲劳测量频率:≥ 2 MHz; 高电压放大器:0-±10 KV,0-±2 mA。
温度范围:-100℃-300℃。 |
| 用于矿物、无机非金属等材料的铁电、热释电等电功能特性的测试。铁电性能测试中测试信号的输出和反馈信号的收集,可进行电滞回线测试、漏电流测试等铁电性能的检测。 |
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对于高分子薄膜等材料,采用刷银浆或溅射银电极。性能不好或者漏电流大、绝缘性不好的,不建议测铁电。其中,样品的最大尺寸长×宽×高=20×20×3mm,需上下打磨平整,涂覆对称电极,电极尺寸≥10mm。 |
| 校内:50元/样 校外:80元/样 |
| 逸夫楼317B |
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网络分析仪
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| Network analyzer |
| 美国安捷伦(Agilent)公司 |
| N5230C |
| 2010.09 |
| 1. 频率范围:10 MHz~40 GHz 2. 测试端口数:2端口 3. 接收机底噪声:10 Hz IF BW 4. 扫源输出功率范围:-27 dBm~+8 dBm 5. 材料测量参数:固体或粉末的介电常数、磁导率 6. 材料测量频段及方法: 自由空间法:1-40 GHz 同轴法:1-18 GHz; 波导法:18-40 GHz; |
| 该系统配合了不同的微波测试电缆、天线及波导组成,可测试矿物材料、无机非金属材料的1-40 GHz范围内的介电、磁导等功能特性。既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值,又能测相位,矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。矢量网络可以测试电磁屏蔽和吸波性能。电磁屏蔽计算主要用S参数,吸波效率计算用电磁参数。 |
| 1. 同轴模式粉末样品一般至少需0.1g(与样品浓度有关), 或者自己制备成同轴环(外径7mm,内径3.04mm,厚度不超过2mm),测试频段2-18GHz; 2. 波导需要根据测试频段制备标准尺寸样品,最好是在制备好后可以放进波导片里;制样标准:22.9 x 10.2 x 2mm(8.2~12.4GHz);15.9 x 8.03 x 2 mm(12.4~18GHz); 10.95 x 4.5 x 2mm(18-26.5GHz); 7.153.60 x 2mm(26.5-40GHz); 3. 导电性太好的样品建议测试屏蔽效能,测试电磁参数可能会有异常,请慎重选择! |
| 校内150元/小时,校外300元/小时。 |
| 逸夫楼317B |
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光催化二氧化碳转化原位红外系统
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| In-situ Fourier transform infrared spectroscopy |
| 美国Thermo Fisher Scientific |
| iS50 FTIR |
| 2023年 |
| 1、干涉仪:Rocket™ 干涉仪,赛默飞专利技术,具有超高速度、稳定性、抗干扰性和长寿命; 2、光谱范围:覆盖 7,800 cm-1 到 350 cm-1 (中红外核心区域); 3、波数精度:通常优于 0.01 cm-1; 4、光源:高能量、长寿命陶瓷光源; 5、检测器:液氮冷却汞镉碲 (MCT) 检测器,氘代硫酸三甘肽 (DTGS) 检测器。 |
| 原位红外光谱可对物质的分子结构、化学键变化以及反应过程进行实时、动态的监测与分析,提供了物质的“分子指纹”信息。 1、实时动态监测:可连续记录反应体系中分子振动光谱随时间、温度等条件的变化。 2、真实环境表征:直接在反应发生的实际环境中(如催化反应器、电化学池、高温高压装置)进行测量,避免了取样、转移等步骤对样品状态(如中间体、表面吸附物、活性位点)的干扰或破坏,获得的数据更能反映真实情况。 3、非破坏性:红外光与物质的相互作用通常是温和的,使得对同一样品进行长时间、连续的监测成为可能。 |
| 安全性:样品需无毒、无放射性、无爆炸性,且在实验条件下(高温、特定气氛)不发生剧烈或危险性反应(如剧烈分解、爆炸)。此外,对操作者或仪器无腐蚀、污染风险。 清晰度:被检测样品的目标信号(如反应物、产物、中间体、表面物种)应具有可分辨的红外吸收峰。 |
| 校内:960元/样 校外:1200元/样 |
| 测试楼405 |
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多通道电化学测试系统
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| Multi-channel electrochemical workstation systems |
| Gamry |
| Interface 5000 & Interface 1010/ Interface 5000 & Interface 1010 |
| 2023年 |
| 最大输出电流:±5A 最小电流分辨率:150 p 最大施加电位:±12V 电位分辨率:1μV 槽压:±20 V 最小时间基数:10 μs EIS频率范围:10μHz-2MHz。包括恒电位、恒电流、混合控制模式 可使用单一正弦波测量,也可利用多重正弦波进行快速EIS的测量 EIS最大振幅:3 V,5A。 |
| 多通道电化学测试系统是电催化材料、电池材料、电容器等的重要分析仪器设备,该仪器适用于电化学机理、物质的定性定量分析、常规电化学测试、纳米科学研究、传感器研究、金属腐蚀研究、电池研究及电镀研究等,可进行循环伏安法、交流阻抗法、交流伏安法、电流滴定、电位滴定等测量。 |
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| 校内:80元/时;校外:160元/时 |
| 平房12号屋 |
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接触角测定仪
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| Contact Angle measuring instrument |
| Kris Scientific Instruments (Shanghai) Co., LTD |
| DSA100S接触角测定仪 |
| 2023年 |
| 电压:88 至 264 V 功耗:100 W 频率:50 至 60 赫兹 最大样品体积:320 mm * ∞ * 275 mm 接触角测量范围:0-180° 分辨率:± 0.01° 表面张力测量范围:0.01-2000 mN/m 分辨率:0.01mN/m |
| 接触角测量:静态接触角:0–180°范围,用于评估液滴在固体表面的平衡润湿性。动态接触角:包括前进角、后退角及滚动角,分析表面滞后性和液滴粘附行为。 表面/界面张力测量:范围0.01–2000 mN/m,适用于液体表面张力。 表面能分析:通过接触角数据计算固体表面自由能(SFE),支持多种模型:Owens-Wendt-Rabel-Kaelble (OWRK)、Fowkes、Wu、Zisman、van Oss-Good。 可分析表面极性/色散力分布,生成晶片表面极性图谱。 |
| 块状/薄膜:≥1 cm × 1 cm,表面平整 粉末:压片法:≥100 mg(压成1 cm²片状) 液体:表面张力测试:≥50 mL/种 界面张力:油/水各≥50 mL |
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1、接触角测试:静态测试:40(80)元/样或80(160)元/小时;动态测试:80(160)元/样或160(320)元/小时; 2、表面张力、表面能测试:均100(200)元/样。 |
| 测试楼127 |
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气相色谱仪
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| Gas chromatography |
| Agilent |
| 8860 GC System |
| 2023年 |
| GC/MS 兼容性 单四极杆(不锈钢离子源) 保留时间重现性:<0.06% 典型压力控制:0.01 psi 双塔同时进样:No 尺寸(宽 x 深 x 高):58 cm x 54 cm x 49 cm 峰面积重现性:<2% RSD 微板流路控制技术 (CFT):否 最大升温速率:75 °C/min 柱温箱冷却:5.7分钟内从300°C降至50°C(室温25°C) 检测器:3 气相色谱检测器 MDLs:标准 气相色谱诊断 — 泄漏检查:标准(手动盖隔垫吹扫) 运行温度范围:高于室温 +8°C 至 425°C 进样口:2 阀:3 |
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| 样品需是气态或易挥发的液体,沸点一般在50-400℃之间,且在进样和分离过程中不能分解或发生化学反应。样品应纯净,尽量不含对色谱柱和检测器有害的杂质,如酸、碱、盐等。若样品是溶液,溶剂需与样品和色谱柱兼容,且沸点低于样品。样品浓度要适中,既不能过载色谱柱,也不能低于检测限。进样量通常在0.1-1.0 µL,具体视样品浓度和检测器灵敏度而定。 |
| 平房12号屋 |
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